XX. mendeko Euskararen Corpus estatistikoa

Testuingurua

Espektroskopia optikoetan uhin-luzeren tartea oso zabala izan arren, erabilitako iturri eta detektagailuak antzekoak dira.

Iturriak zirkuitu oszilatzaile konplexuak izan beharrean, lanparak dira.

Hauek oinarritzat atomo eta molekulen bibrazio edo eszitazio elektronikoa dute.

Goritasun-lanparek erradiazio ikuskorra eta infragorria ematen dute.

Espektroaren tarte ultramore ikuskorra berriz, gas-deskargek.

Laser argiaren purutasunak eta intentsitateak iraultza eragin du, eta egun infragorritik ultramore hurbileraino erabiltzen dira.

Azkenik sinkotroi erradiazioa aipatu behar da; ultramore hurbiletik X izpi gogorretaraino ematen bait du paregabeko intentsitatea.

Detektagailuei dagokienez, bolometro eta termopiletatik (infragorria) fotoanizkoitzelaraino (ikuskorra-ultramorea) daude.

Erdieroale-detektagailu arin eta sentikorrek (fotodiodoak) gero eta aplikazio gehiagotan aurki daitezke; hauek espektroko edozein tarte bereizmen handiz neur bait dezakete.

1.4.- X izpiak

Materiaren egitura elektronikoarekin oso erlazionatuak daude, eta aspaldidanik, egoera solidoko fisikarien oinarrizko tresna bihurtu da.

a) Sakabanaketa elastikoa edo difrakzioa: materiaren egitura-ikerketen oinarrian dago.

Metodo honen oinarria oso sinplea da; X izpi hauen uhin-luzera atomoen arteko distantziaren neurrikoa bait da ( IA, X izpien energia hamar keV ordenakoa izanik).

X izpien sakabanaketa elastikoan atomoaren elektroi guztiek parte hartzen dute.

Beraz, kokapen atomikoen informazioa emateaz gain, baldintza konkretu batzuen pean, dentsitate elektronikoaren mapak egin daitezke.

b) Zurgapen eta sakabanaketa inelastikoa: X izpiekin elkarrekitean laginaren atomoak kitzikatu zein ionizatu egin daitezke.

Elkarrekintza honen ondorioz elektroiak edo X izpiak (zulo elektronikoak betetzean sorturikoak) sor daitezke.

Lehenbizikoek solidoko egoera elektronikoen dentsitatea ezagutzeko aukera ematen dute.

Bigarrenek, berriz, lagina analizatzeko erabiltzen dira. (X izpien fluoreszentzia).

X izpien zurgapen-ertzaren egitura finak atomoak desberdintzeko balio duenez, oso interesgarria da.

Egitura fin hori fotoelektroien difrakzioz (hurbiltasuneko atomoez) sorturikoa da.

Beraz, atomo konkretu bakoitzaren hurbiltasuneko informazioa lor daiteke.

Aipaturikoa EXAFS eta XANES tekniken oinarria da.

X izpien teknika guztiek iturri eta detektagailu amankomunak dituzte.

X izpiak hodi batean sortzen dira.

Bertan tentsio altuz azeleraturiko elektroiek anodo finko edo birakor baten aurka talka egitean balaztapen-erradiazioa igortzen dute.

Potentzia eta itzulkortasun handiko alternatiba, sinkrotroi-erradiazioa da.

Sinkrotroi-erradiazioa magnetoen bidez elektroi edo positroi oso arinen desbideraketak sorturikoa da.

Azeleradore handia behar delako oso garestia da eta mantentzen zaila.

Honelako tresna handietan, Grenoblen eraikitzen ari den sinkrotroi europarrean adibidez, hautaketa sakon baten ondorioz batzorde zientifiko batek garrantzi nagusiko esperimentu batzuetan (difrakzioan) argazki-pelikulak erabiltzen dira.

1.5.- Gamma izpiak

y izpien erradiazioa nukleo atomikoetan sorturikoa da eta beraren energi tartea keV gutxi batzuetatik ehundaka =mEv=-etaraino iristen da.

Elkarrekintza hiperfinez ez bada, nukleoa atomoaren egitura elektronikoarekiko ez da sentikorra.

Mossbauer efektuak trantsizio nuklearren bereimen energetiko itzelak () erabiltzen ditu.